深圳市鼎极天电子有限公司

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X-STRATA960镀层测厚仪(Oxford Instrument)

CMI900X荧光镀层测厚仪(Oxford Instrument)

CMI760线路板面/孔铜厚测量仪(Oxford Instrument)

CMI500便携孔内镀铜测厚仪(Oxford Instrument)

CMI165手持式表面铜厚测量仪(Oxford Instrument)

CMI243(Oxford Instrument)

树脂流动性测试系统

X-Met3000TXR 手提式塑膠和金屬RoHS快速分析儀(Oxford Instrument)

OSPrey800(Oxford Instrument)

CMI150(Oxford Instrument)

铜箔抗剥离强度测量仪

长臂板厚测量仪

CMI233涂层测厚仪(Oxford Instrument)

二次元、三次元（SV-N）

CM95铜箔测厚仪(Oxford Instrument)

X-Strata980(X荧光镀层测厚及ROHS分析仪)(Oxford Instrument)

X-MET3000TX+——用于废旧金属回收和合金分析的手持式X射线荧光分析仪(Oxford Instrument)

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